本实验室是一家具备HALT测试（高加速压力测试）和HASS测试（高加速应力筛选试验）的第三方检测机构。实验室配备Halt试验箱，提供各类芯片、电路板、中小型设备的HALT测试和HASS试验。
检测机构具备CNAS和CMA资质，位于北京市西城区广安门外大街，地理位置优越，工程师测试经验丰富，出具检测报告快捷，进行HALT测试和HASS试验安排方便，高能高效。
HALT（高加速生命周期测试）是一种在工程开发过程中验证产品可靠性的压力测试，HASS（高加速应力筛选）主要用于批量制造加工期间筛选出弱PCBA。两者都通常应用于电子设备，用于识别/解决新开发产品中的设计弱点。
两种试验，都需要用到高加速寿命试验箱。
为什么 HALT/HASS 试验箱很重要？
与其他环境模拟箱不同，HALT 和 HASS 试验箱提供快速升温速率（高达每分钟 60C），并将热、振动和冲击仿真结合在单个设备中。可在三个线性轴（X、Y 和 Z）和三个旋转轴（俯仰、横滚和偏航）上同时施加高达 50 Grams 的振动水平。
HALT 如何提高产品的可靠性？
HALT测试基本上用于在短时间内增量应用高压力水平，已知这超出了预期的现场环境场景。使用增量阶跃应力方法的好处是故意拉伸所有变量，直到发生任何异常。由于 HALT 测试纯粹是为了诱发故障而设计的，因此它不仅像通过/失败测试一样，而且肯定需要对某些故障和纠正措施进行 RCA（根本原因分析），以从整体测试中获得好佳价值。它增强了我们学习和仔细检查产品设计和材料局限性的能力。但是，它提供了一些机会，可以在市场发布前的开发/原型阶段不断改进设计。
实验室具备HALT测试（高加速压力测试）和HASS测试（高加速应力筛选试验）的试验能力，欢迎广大客户光临。