x射线双晶衍射摇摆曲线

x射线双晶衍射摇摆曲线

国家有色金属及电子材料分析测试中心，针对单晶基片及其完美性分析或点阵失配外延层薄膜（晶体完整性和异质外延结构），通过高分辨x射线衍射测量（x射线双晶衍射摇摆曲线）提供微结构、微成分和微缺陷等方面的大量信息。

国家有色金属及电子材料分析测试中心，是中国权威的第三方金属检测机构，实验室通过iso 17025国家实验室认可（cnas），中国计量认证（cma），国际航空材料认证（nadcap），为客户提供科学的产品检测、评价方案，满足进出口及工程检测等各种需求。  

关键词：绘制衍射图谱，物相定性分析，物相定量分析，极图测定，宏观应力测试，宏观应力检测，宏观应力分析，微观应力分析，微观应力检测，微观应力测试，织构分析，晶粒度测试，点阵常数测定，点阵常数测试，点阵常数检测，晶体取向分析，残余应力测试，残余应力分析，残余应力检测。