虽然增益等参数的测量在技术上不需要使用VNA，但是回波损耗和隔离的测量确实需要完整的网络分析。针对回波损耗和反向隔离的仪器设置取决于要分析的是PA的小信号行为还是大信号行为。小信号是指在线性工作区域内的信号，大信号是指在非线性工作区域的信号。测量小信号行为时，可以使用VNA精确测量S11(输入回波损耗)和S22(输出回波损耗)。
在某些情况下，测量输出回波损耗可能需要对测试配置进行微调。PA输出端和VNA端口2之间所需的衰减可能相对较高，尤其是对于高增益PA。在这种情况下，高PA增益和相对较低的回波损耗会产生功率极低的反射信号，并由VNA的端口2进行测量。因此，对高增益PA进行精确的S22参数测量通常需要使用衰减器来生成比放大器增益更低的损耗。在这些情况下，通常针对S11、S12和S21测量使用一个衰减值，针对S22测量使用另一个衰减值。
在制造加工测试中使用STS快速测量S参数
NI半导体测试系统(STS)是一款全自动化制造加工测试系统，采用全新的方法来测量制造加工测试中的S参数。该系统结合了端口模块(port Module)与NI矢量信号收发器(VST)。除了开关和预选功能之外，端口模块包含的定向耦合器可以有效地将VST转换成VNA。因此，可以在制造加工测试环境下快速测量S参数，而不需要使用其他仪器。S参数测量使用多端口校准模块进行校准，该模块可以自动校准多达48个RF端口。
在大信号条件下测试PA时，测试配置要复杂得多。在大信号条件下，很大一部分输出能量被转换为谐波，而无法被传统VNA捕捉到。因此，完整分析PA的大信号性能特征的需要使用大信号网络分析仪(LSNA)或负载牵引测试台。由于在大信号条件下测量S12和S21系数更加困难，一种解决方法是将S21系数性能作为输入和/或输出阻抗的函数进行测量。在这种情况下，可编程调谐器放置在待测设备的输入或输出端。
尽管这种方法不能直接测量输入阻抗(S11)或输出阻抗(S22)，但是可以 通过反复试验来估算使PA达到好高性能或效率的输入/输出阻抗。需要注意的是，典型的配置是将CW信号发生器来供电并使用功率计进行测量。现在可以使用VSG来生成调制信号，并使用VSA来分析调制信号，进而测量PA的大信号性能。
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